آنالیز

از میکروسکوپ نیروی اتمی برای مطالعه انواع سطوح مواد شامل مواد رسانا، نیمه رسانا و نارسانا استفاده می‌شود. دستگاه AFM زیر مجموعه میکروسکوپ‌های SPM هستند که برای مشاهده و مطالعه جزییات سطحی تا قدرت تفکیک‌های نانومتری مورد استفاده قرار می‌گیرند. این دستگاه، یک کاوشگر سطحی محبوب برای اندازه گیری‌های توپوگرافیک و محاسبه نیروهای عمودی در مقیاس میکرو تا نانو شناخته شده است. این میکروسکوپ قابلیت تصویربرداری از مواد و سلول‌های زنده را دارا می‌باشد. میکروسکوپ دارای دو مد تماسی و ضربه‌‌‌ای می‌باشد که علاوه بر تصویربرداری دو بعدی تصویر سه بعدی از سطح را نیز می‌دهد.
عملکرد این میکروسکوپ به این صورت است که سطح نمونه توسط یک سوزن تیز، به طول 2 میکرون و غالبا قطر نوک کمتر از 10 نانومتر آنالیز می‌شود. سوزن در انتهای آزاد یک کانتیلور به طول حدود 100 تا 450 میکرون قرار دارد. نیروهای بین سوزن و سطح نمونه باعث خم شدن یا انحراف کانتیلور شده و یک آشکارساز میزان انحراف کانتیلور را در حالیکه سوزن سطح نمونه را روبش می‌کند، اندازه گیری می‌کند. می‌توان از انحراف کانتیلور برای ورودی یک مدار بازخورد استفاده کرد که روبشگر پیزو را در مواجهه با توپوگرافی سطح نمونه به گونه‌‌‌ای در جهت بالا و پایین می‌برد که میزان انحراف کانتیلور ثابت بماند. اندازه گیری انحرافات کانتیلور به کامپیوتر امکان تولید تصویر توپوگرافی سطح را می‌دهد.

آنالیز TEM یکی از پرکاربردترین خدمات آنالیز و شناسایی مواد شیمیایی می‌باشد. این آنالیز جز خانواده آنالیزهای میکروسکوپی می‌باشد و از لحاظ کاربردی بسیار شبیه به میکروسکوپ نوری می‌باشد با این تفاوت که به جای نور، الکترون‌ها به نمونه برخورد می‌کنند و از الکترون‌های عبوری تصویر تشکیل می‌شود. از آنجایی که برای تشکیل تصویر الکترون‌های زیادی می‌بایست از نمونه عبور کند، بنابراین ضخامت نمونه‌ها می‌بایست بسیار کم و در محدوده چند میکرومتر باشد. نازک کردن ضخامت نمونه‌ها با استفاده از روش‌های آماده سازی مخصوص مانند الکتروپولیش، جت پولیش و ... انجام می‌شود. استفاده از الکترون‌ها به جای نور باعث افزایش قدرت تفکیک و نمایش جزییات بیشتر در تصاویر می‌شود. از همین رو با استفاده از این میکروسکوپ می‌توان ذرات بسیار ریز نانو متری (زیر 10 نانومتر) را مشاهده کرد. تفاوت TEM با دیگر میکروسکوپ‌های الکترونی در این است که قدرت تفکیک و قدرت بزرگنمایی مناسب تری دارند و از این رو قیمت بالاتری دارند. با تنظیم و افزایش ولتاژ الکترون‌ها می‌توان طول موج الکترون‌ها را تنظیم کرد که منجر به تغییرات در قدرت تفکیک میکروسکوپ می‌شود.

آنالیز FTIR یکی از خدمات آنالیز پر کاربرد می‌باشد. این آنالیز در دسته بندی آنالیز طیف سنجی قرار می‌گیرد و از آن برای شناسایی پیوندهای سطحی روی مواد استفاده می‌کنند. در این روش امواج الکترومغناطیسی در ناحیه فروسرخ به نمونه مورد نظر برخورد می‌کند. انرژی امواج فروسرخ در محدوده انرژی ارتعاشی پیوندهای شیمیایی می‌باشد. برهم‌کنش تابش مادون قرمز با یک نمونه باعث تغییر انرژی ارتعاشی پیوند در مولکول‌های آن می‌شود و روش مناسبی برای شناسایی گروه‌های عاملی و ساختار مولکولی است. شرط جذب انرژی مادون قرمز توسط مولکول این است که گشتاور دو قطبی در حین ارتعاش تغییر نماید. در طیف الکترومغناطیسی ناحیه بین400-µm 0/8 مربوط به ناحیه مادون قرمز است ولی ناحیه‌ایی که جهت تجزیه شیمیائی مورد استفاده قرار می‌گیرد، بینµm 50- 0/8 است. ناحیه بالاتر از 50µm را ناحیه مادون قرمز دور ، ناحیه بینµm 0/8-2/5 ناحیه مادون قرمز نزدیک و ناحیه بینµm 25-8 را ناحیه اثر انگشت مینامند. هر جسم در این ناحیه یک طیف مخصوص به خود دارد که برای شناسایی گروههای عاملی آن به کار میرود.

آنالیز EDAX یکی از خدمات آنالیز مواد شیمیایی شرکت مهامکس می‌باشد. این آنالیز جز دسته آنالیز عنصری نقسیم بندی می‌شود و از آن برای شناسایی عناصر در ترکیبات شیمیایی استفاده می‌شود. به وسیله این آنالیز می‌توان نوع اتم‌های موجود در یک نمونه و یا ساختار را دریافت. نام اصلی این آنالیز EDS می‌باشد و نام EDAX یک برند تجاری مربوط به شرکتی هست که این آشکارساز را تولید می‌کند.