از میکروسکوپ نیروی اتمی برای مطالعه انواع سطوح مواد شامل مواد رسانا، نیمه رسانا و نارسانا استفاده میشود. دستگاه AFM زیر مجموعه میکروسکوپهای SPM هستند که برای مشاهده و مطالعه جزییات سطحی تا قدرت تفکیکهای نانومتری مورد استفاده قرار میگیرند. این دستگاه، یک کاوشگر سطحی محبوب برای اندازه گیریهای توپوگرافیک و محاسبه نیروهای عمودی در مقیاس میکرو تا نانو شناخته شده است. این میکروسکوپ قابلیت تصویربرداری از مواد و سلولهای زنده را دارا میباشد. میکروسکوپ دارای دو مد تماسی و ضربهای میباشد که علاوه بر تصویربرداری دو بعدی تصویر سه بعدی از سطح را نیز میدهد.
عملکرد این میکروسکوپ به این صورت است که سطح نمونه توسط یک سوزن تیز، به طول 2 میکرون و غالبا قطر نوک کمتر از 10 نانومتر آنالیز میشود. سوزن در انتهای آزاد یک کانتیلور به طول حدود 100 تا 450 میکرون قرار دارد. نیروهای بین سوزن و سطح نمونه باعث خم شدن یا انحراف کانتیلور شده و یک آشکارساز میزان انحراف کانتیلور را در حالیکه سوزن سطح نمونه را روبش میکند، اندازه گیری میکند. میتوان از انحراف کانتیلور برای ورودی یک مدار بازخورد استفاده کرد که روبشگر پیزو را در مواجهه با توپوگرافی سطح نمونه به گونهای در جهت بالا و پایین میبرد که میزان انحراف کانتیلور ثابت بماند. اندازه گیری انحرافات کانتیلور به کامپیوتر امکان تولید تصویر توپوگرافی سطح را میدهد.
بازدید : 219
دوشنبه 7 ارديبهشت 1399 زمان : 18:25